麥奇克MICROTRAC MRB激光粒度儀NANOTRAC WAVE II納米粒度及zeta電位儀

NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

產(chǎn)品詳情

納米粒度測量——先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)

Zeta電位測量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

測量原理：

粒度測量：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量：膜電極設(shè)計(jì)與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

光學(xué)系統(tǒng)：

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號(hào)，無需校正光路

軟件系統(tǒng)：

先進(jìn)的FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個(gè)性化輸出報(bào)告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數(shù)量，面積及光強(qiáng)分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護(hù)，電子簽名和授權(quán)等。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

環(huán)境要求：溫度，10-35°C

：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點(diǎn)：

? 采用先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

? “Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對(duì)應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的可靠性。

? 可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。

? 快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時(shí)間。

? 膜電極設(shè)計(jì)，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

? 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。

產(chǎn)品參數(shù)

解決方案

麥奇克納米粒度儀Nanotrac +Wave在脂質(zhì)體乳液測量中的應(yīng)用

本論文著重描寫脂肪蛋白質(zhì)和膠束在稀釋或是濃縮液體環(huán)境中的脂質(zhì)體粒子的測量. 由于需要控制, 修改及穩(wěn)定脂質(zhì)體, 尺寸大小的測量就是一個(gè)關(guān)鍵的參數(shù). 因而對(duì)多層薄層結(jié)構(gòu)的生長, 脂質(zhì)體的團(tuán)聚, 膜的瓦解, 和微生物的污染都是很重要的而且可以通過(PCS)光子相關(guān)光譜法測量粒子尺寸得到研究. 采用(PCS)光子相關(guān)光譜法原理設(shè)計(jì)的美國Microtrac Nanotrac Wave儀器可以被用來縮短測量時(shí)間(5-30分)而且可測量精細(xì)粒子(3-6000納米)的脂質(zhì)體。

麥奇克納米粒度儀在印刷油墨粒徑測量的應(yīng)用

麥奇克在測量打印機(jī)的顏料懸浮液微粒粒徑方面已經(jīng)建立了一套成熟的標(biāo)準(zhǔn)方法。在高濃度進(jìn)行測量以免稀釋對(duì)分散產(chǎn)生影響。